相関顕微鏡

WITec顕微鏡のモジュラー設計により、ラマンイメージング、蛍光、フォトルミネッセンス、原子間力顕微鏡（AFM）、近接場顕微鏡（SNOM）、走査型電子顕微鏡（SEM）などのさまざまなイメージング技術を1つの機器に組み合わせて、より包括的なサンプル分析が可能になります。異なるモードの切り替えは、顕微鏡の対物レンズレボルバーを回転させるか、相関SEM（RISE顕微鏡）システムの測定位置間でサンプルを往復させるだけで実行できます。